|
|
| 首页 | CANON | NIKON | DISCO | ASML | AMAT | TEL | LAM | KLA | SEMICS | HITACHI | YOKOGAWA |
| 图 片 | 设备名称 | 制造商 | 型号 | 年份 | 详细配置 | 状 态 | |||
 |
KLA P15轮廓仪 | KLA | P15 | - | 设备完整不缺件,有现货1台; | 国内 | |||
|
KLA RS55方阻测试 | KLA | RS55 | - | 设备完整不缺件,有现货2台; | 国内 | |||
 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测 | KLA | SFS6420 | 1995 | 设备完整不缺件,有现货1台; | 国内 | |||
|
KLA KLA2132缺陷检测测 | KLA | KLA2132 | - | 设备完整不缺件,有现货1台; | 国内 | |||
 |
KLA KLA2135缺陷检测 | KLA | KLA2135 | - | 在线热机,设备完整不缺件; | 国内 | |||
|
KLA Tencor CS10 R表面分析仪 | KLA | CS10 R | - | - | 国外 | |||
|
KLA Tencor SFS6420晶圆检测 | KLA | SFS6420 | - | - | 国外 | |||
 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 | KLA | Tencor-8720 | 2017 | 设备完整不缺件,在亚洲. | 国外 | |||
|
KLA Tencor Candela 8620晶圆检测系统 | KLA | Tencor 8620 | - | - | 国外 | |||
 |
KLA SURFSCAN SFS6200晶圆检测系统 | KLA | SFS6200 | 1994 | 设备完整不缺件,已翻新好在美国8". 0.1 micron De |
国外 | |||
 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 | KLA | Tencor-8720 | 2017 | 美国在线热机,用于4英寸和6英寸. | 国外 | |||
 |
KLA Surfscan SP1晶圆检测系统 | KLA科磊 | SP1 | 2007 | TBI翻新掩模和晶圆检测 300/200mm x 3个端口 设 |
国外 | |||
 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 | KLA科磊 | SP2 | 2007 | 在线热机,300毫米掩模和晶圆检测(亚洲). | 已售出 | |||
 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测 | KLA科磊 | SFS6420 | 1995 | 设备完整不缺件,有现货1台; | 国外 | |||
|
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 | KLA | UV1280SE | 2001 | ‧用途：薄膜测量系统 ‧型号：UV128 |
国外 | |||
|
KLA Surfscan SP1 TBI颗粒测量仪 | KLA科磊 | SP1-TBI | - | 已翻新 | 国外 | |||
 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 | KLA | UV1280SE | 2000 | 已翻修完无缺件,可验机保固3个月. | 国内 | |||
|
KLA VISTEC LEICA INS3000侧扫声纳 | KLA科磊 | INS3000 | 1999 | 有2台,月底卖掉.. | 国外 | |||
 |
KLA Tencor RS-75薄膜测量系统 | KLA科磊 | RS-75 | - | - | 国外 | |||
 |
KLA SURFSCAN SFS6220颗粒检测仪 | KLA科磊 | SFS6220 | 2000 | 竞标中.. | 国外 | |||
 |
KLA Tencor 6400晶圆检测设备 | KLA科磊 | 6400 | 1994 | 竞标中.. | 国外 | |||
 |
KLA Tencor 7700缺陷测试仪 | KLA科磊 | Tencor-7700 | 1997 | - | 国外 | |||
|
KLA SURFSCAN SFS6220颗粒检测仪 | KLA科磊 | SFS6220 | 2001 | - | 国内 | |||
 |
KLA SURFSCAN SFS6200晶圆检测系统 | KLA科磊 | SFS6200 | 1995 | The Surfscan 6200 is a tool that | 国外 | |||
 |
KLA SURFSCAN 4500颗粒检测仪 | KLA科磊 | 4500 | - | 4" | 国外 | |||
 |
KLA SURFSCAN SP3晶圆缺陷检测 | KLA科磊 | SP3 | 2014 | 在线热机,2月份拆机. | 国外 | |||
|
KLA 2131缺陷测试仪 | KLA科磊 | 2131 | - | 备件机 6" | 国内 | |||
|
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA科磊 | Kevex 7600 | - | 备件机 6" | 国内 | |||
|
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA科磊 | Kevex 7600 | - | 备件机 6" | 国内 | |||
|
KLA Viper 2401缺陷测试仪 | KLA科磊 | Viper 2401 | - | 备件机 6" | 国内 | |||
|
KLA Tencor 7700缺陷测试仪 | KLA科磊 | Tencor-7700 | - | 备件机 6" | 国内 | |||
|
KLA AIT 1缺陷测试仪 | KLA科磊 | AIT 1 | - | 备件机 6" | 国内 | |||
|
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA科磊 | Kevex 7600 | - | 备件机 6" | 国内 | |||
|
KLA CI-T130 lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T130 | - | 1 | 国外 | |||
|
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T130 | - | 2 | 国外 | |||
|
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T120 | - | 3 | 国外 | |||
|
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T130 | - | 1 | 国外 | |||
|
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T130 | - | 4 | 国外 | |||
|
KLA CI-T830 Lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T830 | - | 1 | 国外 | |||
|
KLA Industrial Camera工业相机 | KLA科磊 | IVC-1600 | - | 2 | 国外 | |||
|
KLA Industrial Camera工业相机 | KLA科磊 | IVC-2000 | - | 2 | 国外 | |||
|
KLA IVC-4000 | KLA科磊 | IVC-4000 | - | 1 | 国外 | |||
|
KLA-Tencor (ICOS) CD | KLA科磊 | Manual | - | 1 | 国外 | |||
|
KLA-Tencor (ICOS) CD | KLA科磊 | ICOS6100_7.6 | - | 1 | 国外 | |||
|
KLA FLX-5400 Flexus晶圆翘曲度测量仪 | KLA科磊 | FLX-5400 | 2015-02-01 | 已打包 | 国外 | |||
|
KLA SURFSCAN SFS6220颗粒检测仪 | KLA科磊 | SFS6220 | 2015-02-01 | 已打包 | 国外 | |||
|
KLA Surfscan SP3(上料机构) | KLA科磊 | SP3 | 2012.3 | 上料机构 | 国外 | |||
|
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 | KLA科磊 | SP2 | - | 300mm,真空处理与三重FIMS; 全面翻新和校准,在洁净室中 |
国外 | |||
|
KLA UV-1050薄膜测量系统 | KLA科磊 | UV-1050 | 1996.5 | 200mm As-Is, Where-Is;含软件及硬盘 | 国外 | |||
|
KLA Surfscan SP1 TBI颗粒测量仪 | KLA科磊 | SP1-TBI | - | Equipment Make: KLA-Tencor Equ |
国外 | |||
|
HITACHI KLA8100扫描电镜 | HITACHI | KLA8100 | - | 6" | 已售出 | |||
|
KLA 2131缺陷检测设备 | KLA科磊 | 2131 | - | 6" | 已售出 | |||
|
KLA P-15单向节流阀 | KLA科磊 | P-15 | - | 8 As-is | 国外 | |||
|
KLA PHX DF 5.0 | KLA科磊 | PHX DF 5.0 | - | 8 As-is | 国外 | |||
|
KLA Ultrascan 9300 | KLA科磊 | Ultrascan 9300 | - | 8 As-is | 国外 | |||
|
KLA Ultrascan 9000光测量系统 | KLA科磊 | Ultrascan 9000 | - | 8 As-is | 国外 | |||
|
KLA AFS-3220 | KLA科磊 | AFS-3220 | - | 8 As-is | 国外 | |||
|
KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 | KLA科磊 | SP3 | - | 6-12 As-is | 已售出 | |||
|
KLA Surfscan SP1 DLS晶圆检测仪 | KLA科磊 | SP1-DLS | - | 6-12 As-is | 国外 | |||
|
KLA ACROTEC6020 | KLA科磊 | ACROTEC 6020 | - | Inspection system/PC/HDD. | 国外 | |||
|
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 | KLA科磊 | UV1280SE | 2000 | Film Thickness Measurement | 国外 | |||
|
KLA Filmetrics F20薄膜测厚仪 | KLA科磊 | F20 | 2021 | Thickness Measurement | 国外 | |||
|
KLA-Tencor M-Gage 300 | KLA科磊 | M-Gage 300 | 2001 | Al Thickness measurement 8寸 | 国外 | |||
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 | KLA科磊 | SP1-TBI | - | 有两台 | 国外 | |||
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 | KLA科磊 | SP1-TBI | 2000 | Kla-tencor One Technology Driveu | 已售出 | |||
|
KLA CANDELA CS2薄膜测量 | KLA科磊 | CANDELA CS2 | - | - | 国内 | |||
|
KLA AITⅡ缺陷检测仪 | KLA科磊 | AITⅡ | 1999 | METROLOGY | 国外 | |||
|
KLA ARCHER200叠对测量系统 | KLA科磊 | ARCHER200 | 2009 | METROLOGY | 国外 | |||
|
KLA EDR-5210S晶圆缺陷检查系统 | KLA科磊 | EDR-5210S | 2011 | METROLOGY | 国外 | |||
|
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 | KLA科磊 | UV1280SE | 2003 | METROLOGY | 国外 | |||
|
KLA Tencor 2552缺陷数据分析处理仪 | KLA科磊 | 2552 | - | As-is | 国外 | |||
|
KLA Viper 2435 | KLA科磊 | Viper 2435 | 2006 | - | 国外 | |||
|
KLA Viper 2438 | KLA科磊 | Viper 2438 | 2008 | - | 国外 | |||
|
KLA Spectra FX200薄膜量测 | KLA科磊 | FX200 | 2006 | [Power-on] 2port(TDK), Yaskawa(Al | 国外 | |||
|
KLA CRS1010 | KLA科磊 | CRS1010 | 1998 | Microscope | 国外 | |||
|
KLA Polylite 88 | KLA科磊 | Polylite 88 | - | - | 国外 | |||
|
KLA Viper 2438 | KLA科磊 | Viper 2438 | 2010 | - | 国外 | |||
|
KLA Tencor ES31晶圆检查系统 | KLA科磊 | ES31 | 2004 | E-beam Inspection / SEMs in Micro | 国外 | |||
|
KLA DP2 | KLA科磊 | DP2 | 2012 | DP2 Data Prep Station | 国外 | |||
|
KLA NANOMAPPER | KLA科磊 | NANOMAPPER | 2006 | [As-is] 2x Open Foup type, Kensin | 国外 | |||
|
KLA HRP-340 | KLA科磊 | HRP-340 | 2004 | 2port(Asyst ISO port), stage lock | 国外 | |||
|
KLA EDR-5210电子束缺陷再检测 | KLA科磊 | EDR-5210 | - | 2x Load port( Brooks, Brooks Robo | 国外 | |||
|
KLA EDR-5210电子束缺陷再检测 | KLA科磊 | EDR-5210 | 2010 | 2xLoad port(Brooks FixLoad), Robo | 国外 | |||
|
KLA Puma 9130晶圆检测系统 | KLA科磊 | Puma 9130 | 2005 | [As-is] 2ea*Loadport(Asyst), PRI | 国外 | |||
|
KLA Puma 9000晶圆检测系统 | KLA科磊 | Puma 9000 | 2005 | [As-is] Handler missing, Dell pow | 国外 | |||
|
KLA WI-2280晶圆检测机台 | KLA科磊 | WI-2280 | - | - | 国外 | |||
|
KLA WI-2280晶圆检测机台 | KLA科磊 | WI-2280 | - | - | 国外 | |||
|
KLA AIT UV | KLA科磊 | AIT UV | 2003 | - | 国外 | |||
|
KLA Puma 9000晶圆检测系统 | KLA科磊 | Puma 9000 | 2005 | [Semi power-on] 2port(Asyst ISO p | 国外 | |||
|
KLA Puma 9000晶圆检测系统 | KLA科磊 | Puma 9000 | 2005 | [As-is] 2ea*Loadport(Phoenix), Ya | 国外 | |||
|
KLA Aleris CX | KLA科磊 | Aleris CX | 2007 | [As-is] 2*loadport(TDK TAS300), Y | 国外 | |||
|
KLA Surfscan 2.1 | KLA科磊 | Surfscan 2.1 | - | - | 国外 | |||
|
KLA MPV CD2 AMC | KLA科磊 | MPV CD2 AMC | - | - | 国外 | |||
|
KLA MPV CD2 AMC | KLA科磊 | MPV CD2 AMC | - | - | 国外 | |||
|
KLA MPV-CD | KLA科磊 | MPV-CD | - | - | 国外 | |||
|
KLA SFS7700 | KLA科磊 | SFS7700 | - | - | 国外 | |||
|
KLA Ergolux | KLA科磊 | Ergolux | - | - | 国外 | |||
|
KLA INM100+INS10 | KLA科磊 | INM100+INS10 | - | - | 国外 | |||
|
KLA CI-T53P | KLA科磊 | CI-T53P | - | 1 SET | 国外 | |||
|
KLA ICOS T830测试系统 | KLA科磊 | ICOS T830 | - | 1 SET | 国外 | |||
|
|||||||||
|
|
| 二手半导体设备买卖+翻新 龙先生18868521984(微) |
| 注：设备状态不定期更新，是否已售出请咨询。 |
