2024-4-30二手设备列表 | ||||||||||||||||||
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ID | 设备名称 | 制造商 | 型号 | 年份 | 详细配置 | 状 态 | ||||||||||||
3857 | KLA Tencor 8720缺陷检测机 | KLA科磊 | 8720 | 2017 | 美国在线热机,用于4英寸和6英 | 国外 | ||||||||||||
3847 | KLA Surfscan SP1晶圆检测系统 | KLA科磊 | SP1 | 2007 | TBI翻新掩模和晶圆检测 3 |
国外 | ||||||||||||
3846 | KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 | KLA科磊 | SP2 | 2007 | 在线热机,300毫米掩模和晶圆 | 国外 | ||||||||||||
3832 | KLA Tencor SFS6420晶圆检测 | KLA科磊 | SFS6420 | 1995 | 完整机 | 国外 | ||||||||||||
3828 | KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 | KLA科磊 | UV1280SE | 2001 | ‧用途:薄膜测量系 | 国外 | ||||||||||||
3826 | KLA Surfscan SP1 TBI颗粒测量仪 | KLA科磊 | SP1 | - | 已翻新 | 国外 | ||||||||||||
3808 | KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 | KLA科磊 | UV1280SE | 2000 | 已翻修完无缺件,可验机保固3个 | 国内 | ||||||||||||
3804 | KLA VISTEC LEICA INS3000侧扫声纳 | KLA科磊 | INS3000 | 1999 | 有2台,月底卖掉.. | 国外 | ||||||||||||
3803 | KLA Tencor RS-75薄膜测量系统 | KLA科磊 | RS-75 | - | - | 国外 | ||||||||||||
3800 | KLA SURFSCAN SFS6220颗粒检测仪 | KLA科磊 | SFS6220 | 2000 | 竞标中.. | 国外 | ||||||||||||
3799 | KLA Tencor 6400晶圆检测设备 | KLA科磊 | 6400 | 1994 | 竞标中.. | 国外 | ||||||||||||
3782 | KLA SFS7700颗粒测试仪 | KLA科磊 | SFS7700 | 1997 | - | 国外 | ||||||||||||
3778 | KLA SURFSCAN SFS6220颗粒检测仪 | KLA科磊 | SFS6220 | 2001 | - | 国内 | ||||||||||||
3777 | KLA SURFSCAN SFS6200晶圆检测系统 | KLA科磊 | SFS6200 | 1995 | The Surfscan 62 | 国外 | ||||||||||||
3776 | KLA SURFSCAN 4500颗粒检测仪 | KLA科磊 | 4500 | - | 4" | 国外 | ||||||||||||
3775 | KLA SURFSCAN SP3晶圆缺陷检测 | KLA科磊 | SP3 | 2014 | 在线热机,2月份拆机。 | 国外 | ||||||||||||
3514 | KLA 2131缺陷测试仪 | KLA科磊 | 2131 | - | 备件机 6" | 国内 | ||||||||||||
3513 | KLA Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA科磊 | Kevex 7600 | - | 备件机 6" | 国内 | ||||||||||||
3512 | KLA Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA科磊 | Kevex 7600 | - | 备件机 6" | 国内 | ||||||||||||
3511 | KLA Viper 2401缺陷测试仪 | KLA科磊 | Viper 2401 | - | 备件机 6" | 国内 | ||||||||||||
3510 | KLA Tencor 7700缺陷测试仪 | KLA科磊 | Tencor 7700 | - | 备件机 6" | 国内 | ||||||||||||
3509 | KLA AIT 1缺陷测试仪 | KLA科磊 | AIT 1 | - | 备件机 6" | 国内 | ||||||||||||
3508 | KLA Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA科磊 | Kevex 7600 | - | 备件机 6" | 国内 | ||||||||||||
2869 | KLA CI-T130 lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T130 | - | 1 | 国外 | ||||||||||||
2868 | KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T130 | - | 2 | 国外 | ||||||||||||
2867 | KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T120 | - | 3 | 国外 | ||||||||||||
2866 | KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T130 | - | 1 | 国外 | ||||||||||||
2865 | KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T130 | - | 4 | 国外 | ||||||||||||
2864 | KLA CI-T830 Lead scanner扫脚机 | KLA科磊 | CI-T830 | - | 1 | 国外 | ||||||||||||
2863 | KLA Industrial Camera工业相机 | KLA科磊 | IVC-1600 | - | 2 | 国外 | ||||||||||||
2862 | KLA Industrial Camera工业相机 | KLA科磊 | IVC-2000 | - | 2 | 国外 | ||||||||||||
2861 | KLA IVC-4000 | KLA科磊 | IVC-4000 | - | 1 | 国外 | ||||||||||||
2860 | KLA-Tencor (ICOS) CD | KLA科磊 | Manual | - | 1 | 国外 | ||||||||||||
2859 | KLA-Tencor (ICOS) CD | KLA科磊 | ICOS6100_7.6 | - | 1 | 国外 | ||||||||||||
2806 | KLA FLX-5400 Flexus晶圆翘曲度测量仪 | KLA科磊 | FLX-5400 | 2015-02-01 | 已打包 | 国外 | ||||||||||||
2805 | KLA SURFSCAN SFS6220颗粒检测仪 | KLA科磊 | SFS6220 | 2015-02-01 | 已打包 | 国外 | ||||||||||||
2804 | KLA Surfscan SP3(上料机构) | KLA科磊 | SP3 | 2012.3 | 上料机构 | 国外 | ||||||||||||
2797 | KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 | KLA科磊 | SP2 | - | 300mm,真空处理与三重FI | 国外 | ||||||||||||
2789 | KLA UV-1050薄膜测量系统 | KLA科磊 | UV-1050 | 1996.5 | 200mm As-Is, Wh | 国外 | ||||||||||||
2767 | KLA Surfscan SP1 TBI颗粒测量仪 | KLA科磊 | SP1-TBI | - | Equipment Make: | 国外 | ||||||||||||
2553 | HITACHI KLA8100扫描电镜 | HITACHI | KLA8100 | 6" | 已售出 | |||||||||||||
2552 | KLA 2131缺陷检测设备 | KLA科磊 | 2131 | - | 6" | 已售出 | ||||||||||||
2360 | KLA P-15单向节流阀 | KLA科磊 | P-15 | - | 8 As-is | 国外 | ||||||||||||
2359 | KLA PHX DF 5.0 | KLA科磊 | PHX DF 5.0 | - | 8 As-is | 国外 | ||||||||||||
2358 | KLA Ultrascan 9300 | KLA科磊 | Ultrascan 9300 | - | 8 As-is | 国外 | ||||||||||||
2357 | KLA Ultrascan 9000光测量系统 | KLA科磊 | Ultrascan 9000 | - | 8 As-is | 国外 | ||||||||||||
2356 | KLA AFS-3220 | KLA科磊 | AFS-3220 | - | 8 As-is | 国外 | ||||||||||||
2355 | KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 | KLA科磊 | SP3 | - | 6-12 As-is | 已售出 | ||||||||||||
2354 | KLA Surfscan SP1 DLS晶圆检测仪 | KLA科磊 | SP1-DLS | - | 6-12 As-is | 国外 | ||||||||||||
2320 | KLA ACROTEC6020 | KLA科磊 | ACROTEC 6020 | - | Inspection syst | 国外 | ||||||||||||
2311 | KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 | KLA科磊 | UV1280SE | 2000 | Film Thickness | 国外 | ||||||||||||
2310 | KLA Filmetrics F20薄膜测厚仪 | KLA科磊 | F20 | 2021 | Thickness Measu | 国外 | ||||||||||||
2291 | KLA-Tencor M-Gage 300 | KLA科磊 | M-Gage 300 | 2001 | Al Thickness me | 国外 | ||||||||||||
2284 | KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 | KLA科磊 | SP1-TBI | - | 有两台 | 国外 | ||||||||||||
2256 | KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 | KLA科磊 | SP1-TBI | 2000 | Kla-tencor One | 已售出 | ||||||||||||
1952 | KLA CANDELA CS2薄膜测量 | KLA科磊 | CANDELA CS2 | - | - | 国内 | ||||||||||||
1663 | KLA AITⅡ缺陷检测仪 | KLA科磊 | AITⅡ | 1999 | METROLOGY | 国外 | ||||||||||||
1662 | KLA ARCHER200叠对测量系统 | KLA科磊 | ARCHER200 | 2009 | METROLOGY | 国外 | ||||||||||||
1661 | KLA EDR-5210S晶圆缺陷检查系统 | KLA科磊 | EDR-5210S | 2011 | METROLOGY | 国外 | ||||||||||||
1660 | KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 | KLA科磊 | UV1280SE | 2003 | METROLOGY | 国外 | ||||||||||||
1519 | KLA Tencor 2552缺陷数据分析处理仪 | KLA科磊 | 2552 | - | As-is | 国外 | ||||||||||||
1455 | KLA Viper 2435 | KLA科磊 | Viper 2435 | 2006 | - | 国外 | ||||||||||||
1454 | KLA Viper 2438 | KLA科磊 | Viper 2438 | 2008 | - | 国外 | ||||||||||||
1423 | KLA Spectra FX200薄膜量测 | KLA科磊 | FX200 | 2006 | [Power-on] 2por | 国外 | ||||||||||||
1394 | KLA CRS1010 | KLA科磊 | CRS1010 | 1998 | Microscope | 国外 | ||||||||||||
1370 | KLA Polylite 88 | KLA科磊 | Polylite 88 | - | - | 国外 | ||||||||||||
1325 | KLA Viper 2438 | KLA科磊 | Viper 2438 | 2010 | - | 国外 | ||||||||||||
1324 | KLA Tencor ES31晶圆检查系统 | KLA科磊 | ES31 | 2004 | E-beam Inspecti | 国外 | ||||||||||||
1194 | KLA DP2 | KLA科磊 | DP2 | 2012 | DP2 Data Prep S | 国外 | ||||||||||||
988 | KLA NANOMAPPER | KLA科磊 | NANOMAPPER | 2006 | [As-is] 2x Open | 国外 | ||||||||||||
967 | KLA HRP-340 | KLA科磊 | HRP-340 | 2004 | 2port(Asyst ISO | 国外 | ||||||||||||
966 | KLA EDR-5210电子束缺陷再检测 | KLA科磊 | EDR-5210 | - | 2x Load port( B | 国外 | ||||||||||||
965 | KLA EDR-5210电子束缺陷再检测 | KLA科磊 | EDR-5210 | 2010 | 2xLoad port(Bro | 国外 | ||||||||||||
964 | KLA Puma 9130晶圆检测系统 | KLA科磊 | Puma 9130 | 2005 | [As-is] 2ea*Loa | 国外 | ||||||||||||
963 | KLA Puma 9000晶圆检测系统 | KLA科磊 | Puma 9000 | 2005 | [As-is] Handler | 国外 | ||||||||||||
962 | KLA WI-2280晶圆检测机台 | KLA科磊 | WI-2280 | - | - | 国外 | ||||||||||||
961 | KLA WI-2280晶圆检测机台 | KLA科磊 | WI-2280 | - | - | 国外 | ||||||||||||
960 | KLA AIT UV | KLA科磊 | AIT UV | 2003 | - | 国外 | ||||||||||||
841 | KLA Puma 9000晶圆检测系统 | KLA科磊 | Puma 9000 | 2005 | [Semi power-on] | 国外 | ||||||||||||
823 | KLA Puma 9000晶圆检测系统 | KLA科磊 | Puma 9000 | 2005 | [As-is] 2ea*Loa | 国外 | ||||||||||||
533 | KLA Aleris CX | KLA科磊 | Aleris CX | 2007 | [As-is] 2*loadp | 国外 | ||||||||||||
483 | KLA Surfscan 2.1 | KLA科磊 | Surfscan 2.1 | - | - | 国外 | ||||||||||||
482 | KLA MPV CD2 AMC | KLA科磊 | MPV CD2 AMC | - | - | 国外 | ||||||||||||
481 | KLA MPV CD2 AMC | KLA科磊 | MPV CD2 AMC | - | - | 国外 | ||||||||||||
479 | KLA MPV-CD | KLA科磊 | MPV-CD | - | - | 国外 | ||||||||||||
478 | KLA SFS7700 | KLA科磊 | SFS7700 | - | - | 国外 | ||||||||||||
477 | KLA Ergolux | KLA科磊 | Ergolux | - | - | 国外 | ||||||||||||
476 | KLA INM100+INS10 | KLA科磊 | INM100+INS10 | - | - | 国外 | ||||||||||||
372 | KLA CI-T53P | KLA科磊 | CI-T53P | - | 1 SET | 国外 | ||||||||||||
371 | KLA ICOS T830测试系统 | KLA科磊 | ICOS T830 | - | 1 SET | 国外 | ||||||||||||
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