| 龙玺精密-为您提供AMAT NanoSEM 3D Metrology设备买卖+翻新全套解决方案
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| 编 号：1321 (发布时间:2021.10.1) |
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| 名 称：AMAT NanoSEM 3D Metrology |
| 厂 商：AMAT应用材料 |
| 型 号：NanoSEM 3D |
| 年 份：2002 |
| 状 态：国外 |
NanoSEM 3DULTIPLE UNITS AVAILBLE. PLEASE INQUIRE.
SEM - Critical Dimension (CD) Measurement
Currently configured for 300mm wafers
CE Marked
Install Type: Stand Alone
Cassette Interface:
? (3) 300mm FOUP
Roll-Around Ergo-Station w/Touch-Screen
Status Lamp |
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