| 龙玺精密-为您提供纳米计量学 7200-2134膜厚测定装置设备买卖+翻新全套解决方案
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| 编 号：1745 (发布时间:2021.10.1) |
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| 名 称：纳米计量学 7200-2134膜厚测定装置 |
| 厂 商：纳米计量学 |
| 型 号：7200-2134 |
| 年 份：- |
| 状 态：国外 |
7200-2134设备名称：膜厚测定装置
型号：7200-2134
制造商：纳⽶计量学
类别：测量
机械规格：
平台尺⼨：φ190CCD
图像传感器：1 / 1.8 型 211 万像素 |
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| 龙玺精密-为您提供二手纳米计量学 7200-2134膜厚测定装置买卖+翻新全套解决方案，国内半导体工艺设备非标定制。龙先生18868521984(微)
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