| 图 片 |
设备名称 |
制造商 |
型号 |
年份 |
详细配置 |
状 态 |
 |
KLA EDR-7380缺陷检测设备 |
KLA |
EDR-7380 |
- |
12"设备完整不缺件,300mm在线热机; |
国外
|
 |
KLA STARLIGHT301(300SL)测量设备 |
KLA |
STARLIGHT301(300SL) |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA SCD-XT测量设备 |
KLA |
SCD-XT |
- |
12"设备完整不缺件,有3台现货; |
国外
|
|
KLA Archer A300 AIM测量设备 |
KLA |
Archer A300 AIM |
2010 |
设备完整不缺件,日本仓库中; |
国外
|
|
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2007/2012 |
设备完整不缺件,有2台现货,安装调试+质保6个月; |
国内
|
|
KLA ES31量测设备 |
KLA |
ES31 |
- |
300mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA 2131缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA FLX2908晶圆表面检测设备 |
KLA |
FLX2908 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA Tencor SFS4500颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-4500 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA AWUS3110晶圆探针台 |
KLA |
AWUS3110 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA UV1250SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1250SE |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA AIT-3缺陷检测系统 |
KLA |
AIT-3 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA 2139缺陷检测设备 |
KLA |
2139 |
- |
200mm设备完整不缺件,设备状态差; |
国外
|
|
KLA ARCHER 10套刻精度测量设备 |
KLA |
ARCHER 10 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA 2131缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
 |
KLA Tencor 8520表面缺陷检测系统 |
KLA |
8520 |
2022 |
6"设备完整不缺件,3线/230伏/20安培/50/60赫兹,晶圆 |
国外
|
|
KLA 2401缺陷检测设备 |
KLA |
2401 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
 |
KLA SF27缺陷检测 |
KLA |
SF27 |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
KLA Tencor CS20表面分析仪 |
KLA |
CS20 |
2010 |
设备完整不缺件,安装调试+质保6个月,费用加25万元; |
国内
|
 |
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2015 |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2011 |
设备完整不缺件,在线热机,晶圆片300mm; |
国外
|
 |
KLA Tencor 8420表面缺陷检测系统 |
KLA |
8420 |
2020 |
6"设备完整不缺件,20年入厂,设备九成新以上,目前在湖南仓库中, |
国内
|
|
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
1997 |
2016年翻新,激光器于2020年3月更换,最后一次PM于2023 |
国外
|
 |
KLA P15台阶仪 |
KLA |
P15 |
- |
设备完整不缺件,质保3月加3万元; |
国内
|
 |
KLA RS55方阻测试仪 |
KLA |
RS55 |
2000 |
设备完整不缺件,有2台现货(有台缺件,打包卖+20W); |
国内
|
 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国外
|
 |
KLA 2132缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1996 |
设备完整不缺件,安装调试加70W左右,备件成本太高; |
国内
|
 |
KLA 2135缺陷检测设备 |
KLA |
2135 |
1998 |
在线热机,设备完整不缺件,安装调试加10W; |
国内
|
|
KLA Tencor CS10 R表面分析仪 |
KLA |
CS10 R |
- |
- |
国外
|
|
KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
2007 |
- |
国外
|
 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
KLA |
8720 |
2017 |
设备完整不缺件,在线热机在亚洲; |
国外
|
|
KLA Tencor 8620表面晶圆检测系统 |
KLA |
8620 |
- |
设备完整不缺件,目前在欧洲; |
国外
|
 |
KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
1995 |
设备完整不缺件; |
国外
|
 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
KLA |
8720 |
2007 |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
2007 |
TBI翻新掩模和晶圆检测,300/200mm x 3个端口,设备在 |
国外
|
 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2001 |
设备缺件; |
国内
|
 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor UV1280SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1280SE |
2001 |
用途：薄膜测量系统
型号：UV1280SE
出厂日期：2001 |
国外
|
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
已翻新; |
国外
|
 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV1280SE |
2000 |
已翻修完无缺件,可验机保固3个月; |
国内
|
|
KLA Leica INS3000侧扫声纳 |
KLA |
INS3000 |
1999 |
有2台,月底卖掉.. |
国外
|
 |
KLA Tencor RS75薄膜测量系统 |
KLA |
RS-75 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
- |
设备完整不缺件,正运回中国; |
国内
|
 |
KLA Tencor SFS6400晶圆检测设备 |
KLA |
SFS-6400 |
1994 |
竞标中.. |
国外
|
 |
KLA Tencor SFS7700缺陷测试仪 |
KLA |
SFS-7700 |
1997 |
设备完整不缺件; |
国外
|
 |
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
2001 |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
1992 |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
KLA Tencor SFS4500颗粒检测仪 |
KLA |
SFS-4500 |
- |
4" |
国外
|
 |
KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 |
KLA |
SP3 |
2014 |
在线热机,2月份拆机; |
国外
|
 |
KLA Therma-wave OP2600膜厚测量设备 |
KLA |
OP2600 |
1997 |
设备完整不缺件,已翻新;
Fully refurbished s |
国外
|
 |
KLA Therma-wave OP5240膜厚测量设备 |
KLA |
OP5240 |
2000 |
设备完整不缺件,已翻新;
Fully refurbished s |
国外
|
|
KLA 2131缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS4500颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-4500 |
- |
6"设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
KLA Surfscan SP5晶圆缺陷检测 |
KLA |
Surfscan SP5 |
- |
设备完整不缺件; |
已售出
|
|
KLA UV-1050膜厚测量仪 |
KLA |
UV-1050 |
- |
6-8"设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA FT-750膜厚测量仪 |
KLA |
FT-750 |
- |
6-8"设备完整不缺件,有3台现货; |
国内
|
|
KLA 2133缺陷检测设备 |
KLA |
2133 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
|
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA Viper 2401缺陷测试仪 |
KLA |
Viper 2401 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS7700缺陷测试仪 |
KLA |
SFS-7700 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA AIT 1缺陷测试仪 |
KLA |
AIT 1 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
- |
6"设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA Aleris 8350薄膜量测系统 |
KLA |
Aleris 8350 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA UV1250SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV1250SE |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA OP2600膜厚仪 |
KLA |
OP2600 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
KLA |
8720 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA Viper2430晶圆检测设备 |
KLA |
Viper2430 |
2006 |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
KLA |
Tencor 8720 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
 |
KLA Tencor CS10表面分析仪 |
KLA |
CS10 |
2006 |
设备完整不缺件,现货热机,可安装调试; |
国内
|
|
KLA CI-T130 lead scanner扫脚机 |
KLA |
CI-T130 |
- |
4 |
国外
|
|
KLA CI-T830 lead scanner扫脚机 |
KLA |
CI-T830 |
- |
1 |
国外
|
|
KLA IVC-1600工业相机 |
KLA |
IVC-1600 |
- |
2 |
国外
|
|
KLA Industrial Camera工业相机 |
KLA |
IVC-2000 |
- |
2 |
国外
|
|
KLA IVC-4000缺陷检测设备 |
KLA |
IVC-4000 |
- |
1 |
国外
|
|
KLA-Tencor (ICOS) CD测量 |
KLA |
Manual |
- |
1 |
国外
|
|
KLA-Tencor (ICOS) CD测量 |
KLA |
ICOS6100_7.6 |
- |
1 |
国外
|
|
KLA FLX-5400 Flexus晶圆翘曲度测量仪 |
KLA |
FLX-5400 |
2015-02-01 |
已打包 |
国外
|
|
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
1999 |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA Surfscan SP3(上料机构) |
KLA |
SP3 |
2012.3 |
上料机构; |
国外
|
|
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2011 |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA UV-1050薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1050 |
1996.5 |
200mm As-Is, Where-Is;含软件及硬盘 |
国外
|
|
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2002.8 |
300mm As-Is, Where-Is;不含硬盘 |
国外
|
|
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2005.2 |
300mm,Where-Is,不含硬盘; |
国外
|
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
Equipment Make: KLA-Tencor
Equ |
国外
|
|
KLA 2138缺陷检测设备 |
KLA |
2138 |
- |
设备完整不缺件,有4台现货; |
国外
|
 |
KLA RS75方阻测试仪 |
KLA |
RS75 |
2000 |
设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA Leica INM300金相显微镜 |
KLA |
INM300 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
KLA P-15单向节流阀 |
KLA |
P-15 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
KLA PHX DF 5.0缺陷检测设备 |
KLA |
PHX DF 5.0 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
KLA Ultrascan 9300掩模版检测设备 |
KLA |
Ultrascan-9300 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
KLA Ultrascan 9000光测量系统 |
KLA |
Ultrascan-9000 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
KLA AFS-3220晶圆缺陷检测 |
KLA |
AFS-3220 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 |
KLA |
SP3 |
- |
设备完整不缺件,含序列号; |
国内
|
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA Acrotec 6020晶圆缺陷检测设备 |
KLA |
Acrotec-6020 |
- |
Inspection system/PC/HDD. |
国外
|
 |
KLA 8935-FFC AOI晶圆检测设备 |
KLA |
8935-FFC |
2022 |
设备完整不缺件;
全新机420-650万美元(3000-4650 |
已售出
|
|
KLA Tencor UV 1280SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1280SE |
2000 |
Film Thickness Measurement |
国外
|
|
KLA Filmetrics F20薄膜测厚仪 |
KLA |
F20 |
2021 |
Thickness Measurement |
国外
|
|
KLA ADE 9500晶圆计量与检测设备 |
KLA |
ADE-9500 |
- |
Multifunctional measurement |
国外
|
|
KLA Tencor M-Gage 300薄膜电阻测量设备 |
KLA |
M-Gage 300 |
2001 |
Al Thickness measurement 8寸 |
国外
|
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
有2台; |
国外
|
 |
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
2000 |
Kla-tencor One Technology Driveu |
已售出
|
|
KLA FLX2908缺陷检测设备 |
KLA |
FLX2908 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA Tencor 8620晶圆检测系统 |
KLA |
8620 |
- |
12"设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
|
KLA 2350晶圆检测设备 |
KLA |
2350 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA UV-1050薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1050 |
- |
设备完整不缺件,有4台现货; |
国外
|
|
KLA EDR 5200+电子束缺陷检查设备 |
KLA |
5200+ |
- |
设备完整不缺件,无硬盘; |
国内
|
|
KLA Tencor CS2薄膜测量 |
KLA |
CS2 |
- |
- |
国内
|
|
KLA 5200XP量测设备 |
KLA |
5200XP |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA AIT Ⅱ缺陷检测仪 |
KLA |
AIT Ⅱ |
1999 |
METROLOGY |
国外
|
 |
KLA TP500热波检测仪 |
KLA |
TP500 |
1997 |
设备完整不缺件,有2台现货,已翻新好; |
国内
|
|
KLA EDR 5210S晶圆缺陷检查系统 |
KLA |
EDR-5210S |
2011 |
METROLOGY |
国外
|
|
KLA Tencor UV 1280SE薄膜测量系统 |
KLA科磊 |
UV-1280SE |
2003 |
METROLOGY |
国外
|
|
KLA AIT II-I缺陷检查仪 |
KLA |
AIT II-I |
2001 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA 2133缺陷检查设备 |
KLA |
2133 |
2011 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA 2132缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA CRS1010缺陷检查仪 |
KLA |
CRS1010 |
1995/1996 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor AIT 8010缺陷检查仪 |
KLA |
AIT-8010 |
1998 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS7700颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7700 |
1995*2 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS7600颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7600 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS7600M颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7600M |
1994/1995 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
KLA RS55方阻测试仪 |
KLA |
RS55 |
2000 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
已售出
|
|
KLA Tencor VP10E阻值测试仪 |
KLA |
VP10E |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor VP10阻值测试仪 |
KLA |
VP10 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor Mgage300阻值测试仪 |
KLA |
Mgage300 |
1993 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor 2552缺陷数据分析处理仪 |
KLA |
2552 |
- |
As-is |
国外
|
|
KLA Spectra FX200薄膜量测 |
KLA |
FX200 |
2008 |
设备完整不缺件,在新加坡; |
国外
|
|
KLA Viper2435晶圆检测设备 |
KLA |
Viper2435 |
2006 |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA Viper 2438晶圆检测设备 |
KLA |
Viper-2438 |
2008 |
- |
国外
|
|
KLA Spectra FX200薄膜量测 |
KLA |
FX200 |
2006 |
[Power-on] 2port(TDK), Yaskawa(Al |
国外
|
|
KLA CRS1010晶圆载台控制器 |
KLA |
CRS1010 |
1998 |
Microscope |
国外
|
|
KLA Polylite 88薄膜测量系统 |
KLA |
Polylite 88 |
- |
- |
国外
|
|
KLA Viper 2438晶圆检测设备-重 |
KLA |
Viper-2438 |
2010 |
- |
国外
|
|
KLA Tencor ES31晶圆检查系统 |
KLA |
ES31 |
2004 |
E-beam Inspection / SEMs in Micro |
国外
|
|
KLA DP2缺陷检测设备 |
KLA |
DP2 |
2012 |
DP2 Data Prep Station |
国外
|
 |
KLA 8920i AOI晶圆检测设备 |
KLA |
8920i |
2022 |
设备完整不缺件;
全新机280-400万美元(2000-2860 |
已售出
|
|
KLA 8935i AOI晶圆检测设备 |
KLA |
8935i |
2022 |
设备完整不缺件;
全新机350-550万美元(2500-3930 |
已售出
|
 |
KLA 2132缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1996 |
设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA P170探针式表面检测仪 |
KLA |
P170 |
2022 |
设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA NANOMAPPER表面轮廓仪 |
KLA |
NANOMAPPER |
2006 |
[As-is] 2x Open Foup type, Kensin |
国外
|
|
KLA HRP-340表面轮廓测量系统 |
KLA |
HRP-340 |
2004 |
2port(Asyst ISO port), stage lock |
国外
|
|
KLA EDR-5210电子束缺陷再检测 |
KLA |
EDR-5210 |
2010 |
2x Load port( Brooks, Brooks Robo |
国外
|
|
KLA EDR-5210电子束缺陷再检测-重 |
KLA |
EDR-5210 |
2010 |
2xLoad port(Brooks FixLoad), Robo |
国外
|
|
KLA Puma 9130晶圆检测系统 |
KLA |
Puma-9130 |
2005 |
[As-is] 2ea*Loadport(Asyst), PRI |
已售出
|
|
KLA Puma 9000晶圆检测系统 |
KLA |
Puma-9000 |
2005 |
[As-is] Handler missing, Dell pow |
国外
|
|
KLA WI2280晶圆检测机台 |
KLA |
WI-2280 |
- |
- |
国外
|
|
KLA WI-2280晶圆检测机台-重 |
KLA |
WI-2280 |
- |
- |
国外
|
|
KLA AIT UV晶圆检测设备 |
KLA |
AIT UV |
2003 |
- |
国外
|
|
KLA Puma 9000晶圆检测系统-重 |
KLA |
Puma-9000 |
2005 |
[Semi power-on] 2port(Asyst ISO p |
国外
|
|
KLA Puma 9000晶圆检测系统-重 |
KLA |
Puma-9000 |
2005 |
[As-is] 2ea*Loadport(Phoenix), Ya |
国外
|
|
KLA Aleris CX晶圆检测系统 |
KLA |
Aleris CX |
2007 |
[As-is] 2*loadport(TDK TAS300), Y |
国外
|
|
KLA Surfscan 2.1晶圆检测系统 |
KLA |
Surfscan 2.1 |
- |
- |
国外
|
|
KLA MPV CD2 AMC检测设备 |
KLA |
MPV CD2 AMC |
- |
- |
国外
|
|
KLA MPV CD2 AMC检测设备-重 |
KLA |
MPV CD2 AMC |
- |
- |
国外
|
|
KLA MPV-CD尺寸量测设备 |
KLA |
MPV-CD |
- |
- |
国外
|
|
KLA SFS7700颗粒测试仪设备 |
KLA |
SFS7700 |
- |
- |
国外
|
|
KLA Ergolux表面轮廓仪 |
KLA |
Ergolux |
- |
- |
国外
|
|
KLA INM100+INS10显微镜 |
KLA |
INM100+INS10 |
- |
- |
国外
|
|
KLA CI-T53P检测设备 |
KLA |
CI-T53P |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
KLA ICOS T830光学检测系统 |
KLA |
ICOS T830 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
|
KLA Tencor CS20表面分析仪 |
KLA |
CS20 |
2011 |
4-8"设备完整不缺件;
卡盘尺寸：3.7"
光学头组件：
|
国外
|
|
KLA Leica AT500激光跟踪仪 |
KLA |
AT500 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
页次：
1
/ 1页 每页：200 设备数：166
9[1]: 总共有1页
|
|
|
